La microscopie à force atomique (AFM) est une technique permettant d'analyser la surface d'un matériau rigide jusqu'au niveau de l'atome. L'AFM utilise une sonde mécanique qui grossit les caractéristiques de la surface jusqu'à 100 000 000x. Elle produit également des images 3D. Cette technique est dérivée d'une technologie connexe, appelée microscopie à effet tunnel (STM). L'AFM ne nécessite pas que l'échantillon soit conducteur d'électricité, contrairement au STM. L'AFM fonctionne également à des températures ambiantes normales, alors que le STM requiert une température spéciale et d'autres conditions. L'AFM est utilisée pour comprendre les problèmes de matériaux dans de nombreux domaines, notamment le stockage de données, les télécommunications, la biomédecine, la chimie et l'aérospatiale. Elle est utilisée dans le stockage de données pour aider les chercheurs à "forcer" les disques à être plus grands. Les limites de capacité des dispositifs de stockage magnétique se situent aujourd'hui entre 20 et 50 gigabits. Cela représente beaucoup de données par pouce carré. Les chercheurs étudient actuellement l'AFM pour augmenter la densité de lecture et d'écriture à 40 à 300 gigabits par pouce carré. Personne n'a encore commercialisé la technologie AFM à cette fin, mais IBM et d'autres y travaillent activement.
Microscopie à force atomique (AFM)
